钨的晶粒粗大晶界与晶面的截面金相分析显微镜

钨的晶粒粗大晶界与晶面的截面金相分析显微镜
    在接点面上发生放电时，通常在接点面上生成不附着的粉末状氧化物和咐着的膜状氧化物。而放电往往发生在晶界，  粉状氧化物是由电压在晶界放电产生的，附着在接点面上的膜状氧化物则是由电流在晶面放电产生的。这点很容易迈过以下实验结果得知。
    因为钨的晶粒粗大，晶界与晶面的性质差别明显，故对确认上述现象是有利的。对钨来说，如果在晶界发生放电，
就会以该处为中心沿着晶界产生一些小裂纹。然后放电很容易沿着这些裂纹发生。对于这一现象通过普通光学显微镜很容易观察到。
另外，其他材料例如银也可用以下实验得到确认。
    这是因为烧结金属与铸造金属的本质差别在于前者的多孔性质，而其他金属性质却完全没有本质上的差别.用熔化法制造时品界物质的大部分是由固体构成的，一而在烧结金属的晶界物质中含气体多.
    另外，铸造金属的固体晶界物质通常是由具有很大结合力的化合物组成，但这些化合物与晶粒之间的结合力一般比较弱，而这种薄弱性在外观上主要表现为晶粒脆弱，但这种晶粒脆弱性采用烧结法可以去除.
    因此熔化法的接点在放电时，晶界物质与晶粒之间结合薄弱部分比晶界物质的破坏大，晶界物质破坏所生成的扮末状氧化物少。并且在低电压电路中，由于感应在接点间产生的高电压比通过接点问的电流对损耗的影响大