电子显微镜技术需光栏装置设计放进物镜后焦面

电子显微镜技术需光栏放进物镜后焦面
    研究晶体缺陷最普遍采用的透射电子显微镜技术需要把一个光栏放进物镜后焦面。这个光栏选取一束电子并保证只有这束电子参加形成终端象。选取透射束得到亮场象，反之，选取衍射束就形成暗场象。这种方法形成的象就是所选电子束强度在晶体底面各点变化的电子象。如果从试样的这个区域到另一区域，
透射束强度变化明显，就得到亮场象衬，相应的效应也可在暗场中出现。晶体局部弯曲是能引起电子束强度变化的一种最明显的结构变化，这种变化可以由晶体缺陷、析出物等引起。如果局部弯曲影响的是位于或接近于布拉格角的晶面，可以预言，局部区域的强度会有重大变化。然而，如果弯曲畸变只涉及不满足布拉格条件的品面以及弯曲畸变不足以使晶面达到满足布拉格条件，也不致引起局部区域强衍射，可以预料，这时电子象不会有多大变化。根据
这个定性推理，可以知道，试样的衬度看来取决于衍射条件，即特定晶面是否发生强衍射和它们接近于布拉格条件的程度。