金相分析断口表面的外观会随着位置变化而不同

金相分析断口表面的外观会随着位置变化而不同
   ，断口表面的外观会随着位置的变化而不同。也许还不能对图像中的某些细节作出解释，但很明显的一点是，在这个放大倍数下，断口表面的不同部分看起来完全不一样。附录中将就这一点作进一步的详细分析，在断口表面的同一部位，利用不同放大倍数进行观察时，看上去也会显得完全不同。这两张图像拍摄时所使用的显微技术不同，使得对两张图片进行准确比较更加困难。一张高放大倍数的图像，所显示的范围小于30微米，显示的内容是透射电镜(transmission electron microscope，TEM)观察到的断口表面上位于阴影下的碳复型(carbon replica)。有关透射电镜技术将在需要注意的是，在利用分形几何(本章稍后将对此进行讨论)对断口表面进行描述时，这一点尤其重要。这涉及断口形貌图集的使用，在不同放大倍数下或观察的是断口表面的不同部位时，图像会产生很大差异，因此，在使用断口形貌图集时尤其要注意这个问题，特别是当图片上没有标明测试条件及断口的整体几何形状时。