工艺制造高质量部件焊接熔深分析显微镜

工艺制造高质量部件焊接熔深分析显微镜
对于使用先进工艺制造并被设计成工作在高频条件下的器件，小延迟缺陷测试是获得高质量部件所必需的。在本章中，研究了测量SDD的测试覆盖率的覆盖率指标的课题，严格地检验了之前所提出的SDD覆盖率指标，并总结出它们不能满足现实中的所有需求以及准确地测试覆盖率度量。提出新的测量sDD测试覆盖率的指标，它解决了之前所提指标的缺点。解释了新指标背后的原理，并针对几种学术界和工业界的标准电路给出了实验的结果。还比较了两种sDD测试策略在提高测试的SDD覆盖率方面的有效性，也就是时序敏感ATPG和超速测试。
   有关多种故障模型、测试方法以及可测性设计(DfL)技术的基本概念，并对过渡故障测试(发射传递(1aunch on shift)和发射捕获(1aunchon capture)]以及测试模式生成(健壮性和非健壮性)做了一次详尽的叙述。这个叙述对理解过渡故障模式是如何帮助检测小延迟缺陷来说是必不可少的。接下来，确定了针对现代先进的工艺中的小延迟缺陷特殊测试的需求。