涂层材料来源、变化和厚度计量光学显微镜

涂层材料来源、变化和厚度计量光学显微镜
    精确性    为了达到最佳精确度，注意三个引起误差的因素很重要：涂层材料的来源、背景变化和干扰。尽管尚不能解释原因，但已注意到来自不同供应商的硅元素灵敏度不同。即使在主要成分相同的纸上做分析，来自不同供应商的硅元素的直线斜度也有差异。为了避免此类误差，应对每一个供应向的硅元素分别连立校准：另外，对背景变化进行校准可以减少错误。
    同一硅元素在高级日历牛皮纸上的两套标准，牛皮纸的生产日期不同。可以明显看到，两个试样的斜度相同，但有些偏移。分析者可以让操作者从大量将被涂覆的纸中取出一未涂覆试样插入仪器，对背景变化进行校准。因此，随后进行的所有分析都对明显的背景变化做了校准。    最后一个引起误差的因素是高浓度的其他物质。如聚氯乙烯(PVC)上的硅氧烷涂层或二氧化钛填充的薄膜。当膜中的浓度变化时，光谱中的硅元素区域的背景效应发生了变化。因此，膜试样的表观硅涂层的最将升高或降低-用装在分析器中的软件能够很方便地校准这类下扰。光谱扫描可以识别这类干扰，并在校准寸自动补偿。