天瑞Thick800A具如下特点：

1.高精度移动平台可确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；

2.采用高度定位激光，可自动定位测试高度满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；

3.φ0.2mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；

4.定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐；

5.鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置**是被测点；

6.高分辨率探头使分析结果更加准，微小测试点更准确；

7.X射线镀层测厚仪厂家优势在于满足客户要求的情况下，价格更优惠、售后服务更方便，维护成本更低。

型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。